xrf测量深度
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发布时间：2022-04-22 10:01
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时间：2023-10-31 17:57
XRF荧光光谱取样面积大,一般来说是近似整个材料中的含量.
EDS的用途主要是区分固体内部微观尺度不同结构的成分差异,单个像素,纵向可探测材料表面以下几个微米深度区域的平均成分,横向与探测深度相当.微观结构的成分往往就不能代表整体成分,和整体元素含量差别会很大.
EDS也可以选取扫描来测试更大区域的平均成分,在扫描电镜很低放大倍数戏啊,探测最大区域可达到100mm².可以粗略知晓材料的主要成分含量.
