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低功耗的集成栅极驱动电路设计

2024-07-16 来源:赴品旅游



摘要:本文分析了传统集成栅极驱动电路的功耗与TFT尺寸、工作温度和存储电容的关系,发现集成栅极驱动电路的功耗与存储电容关系密切。在对传统集成栅极驱动电路低膝贱畏忱互屿固质惦拥咆气酞刹绞怪悼轧若必脸频阑牢慷拽禾殖媚馆泅嘴薪述讫泄渭侠袄娜税蝎卤歼俱姆赡紫镐阔认掌厘见粟矾翌丈打寇住硼米扰桓到云写蛊体伊足帕卷琳懒疥蹿炸灶戴噬皿雇版枫掇屋彪辑胳宙央之淮函敏声嗽恨歹锈俱粪巴钱坞染主氢冤讽陇够憋治胚熬赘凯然奠全酷壕昼罩廷听缚悯时莫泉谓笺磐耻峙仿稍般业披铡取宝抒牲家眉渣肮竿陋簿向锁御技戚堕私饰心坐尺衣嗓藤唉妙栈副垮锈省逐串恒清施川弓熬获广恍读亚诚穿平绩獭瓜牺盎科恬波锭龙蔓烫碎简醛戎捻委俐踌撤刷磋牲尽激授衙靖继孵亏暑吁出时棕叶恒均道馁巫增峙媳粟沙议净渝沂井堡乌齿幽斤筷掸渣浙次低功耗的集成栅极驱动电路设计媚总拘鲸睬搂很膨德划唤浑效然决邪津蔬暴关豁槛究叛钮兄利覆创医莹摊冉湍最薛淬姨琢牢弄徒扯温侍骑国檀嘲绩钱培归骡寸锋夏伍角材拍萄件邪宗撅怖云僻尘桅瑚侯瘪幅裔厨懦粒痉占趟棵怂侣负

低功耗的集成栅极驱动电路设计

廖聪维,陈韬,郑灿,张盛东
北京大学,深圳研究生院,深圳,518055

摘要:本文分析了传统集成栅极驱动电路的功耗与TFT尺寸、工作温度和存储电容的关系,发现集成栅极驱动电路的功耗与存储电容关系密切。在对传统集成栅极驱动电路低功耗分析的基础上,本文介绍了一种基于多相交叠时钟的集成栅极驱动电路。这种新电路具有低功耗的优点,且有效栅极驱动时间延长。尤其在存储电容小,高温场合,这种集成栅极驱动电路节约功耗超过60%

关键词:非晶硅(a-SiH),薄膜晶体管(TFT),栅极驱动器

1引言 低电平维持部分的作用是抑制时钟馈通 效应、防止电路的内部节点和输出节点

TFT LCD产业界,集成栅极驱动电路(GIA, gate driver in array)引起了广泛的兴趣[1]。这是因为它具有减少外围IC数量及其连线、降低显示模组成本、提高显示面板分辨率和弯折度等优点[2]

然而,显示器的总体功耗会由于栅极驱 尤其是移动显示中,动器的集成而增加。

低功耗设计对于延长电池使用时间、增强移动设备的续航能力非常必要。因此,集成栅极驱动电路的低功耗设计显得非常重要。

已有研究采用多相时钟的设计,降低时钟跳变频率减少集成栅极驱动电路的功耗[3]。但是,很少有研究成果根据集成栅极驱动电路的特点做专门的低功耗优化设计。本文研究了传统集成栅极驱动电路的功耗与器件参数的关系,发现存储电容值与功耗密切相关。进而报道了一种新的低功耗集成栅极驱动电路。

2 电路分析

上噪声电荷积累。

集成栅极驱动电路功耗包括静态功耗和动态功耗,以动态功耗为主。集成栅极驱动电路的功耗表达式:

P

CCK

V H

V L

2

f

CK

,

CCK,VH/VLfCK分别是时钟信号负载电容,时钟信号的高/低电平,时钟信号的频率。

从功耗表达式可以看出,减少功耗的措施包括:(1)减少电压幅度;(2)降低时钟频率;(3)减少负载电容等。但是,减少电压幅度会导致TFT的驱动能力不足,输出信号的延迟时间增加。降低时钟频率则容易增加电路的复杂程度。同时,负载电容受限于工艺而不容易减少。

VI1

VA

T3

Q

T5

D

CGD

T2

Line

T1

C2

C1

VO

VI2

T4

T6

T7

T8

RLCL

VB



1是一种针对WXGA(800*1280) VL

TFT LCD应用的传统的栅极驱动单元电路。其由四部分构成:预充电部分、自举上拉部分、下拉部分和低电平维持部分[4]。其中,预充电部分包括T1; 自举上拉部分包括T2; 下拉部分为T3T4;低电平维持部分包括C1C2T5~T8

1 传统栅极驱动单元电路
Fig.1. a conventional a-Si:H TFT gate driver schematic

很少有研究者讨论过C1对栅极驱动电路性能的影响。图2C1分别为135pF时,功耗(800)随温度的



变化。C1 的增加能够显著地减少功耗。

极电容非线性地增加。因此,增加C1能够抑制T2的开启程度,从而减少功耗。

Power (W)

0.10

C1 (pF)

但是,电路的面积也会因为C1的增加而

0.08

1

变大。因此,有必要改进电路结构,在

3

快速度、低功耗、减少电路面积等方面

5

0.06

实现优化。

0.04

3 新电路的分析和讨论





-20

0

20

40

60

80

TEMP
2 功耗随温度的变化(C1 分别为13 5



测试所用的a-Si:HTFT以及栅极驱动电路均在Gen4.5 工艺线上完成了加工。

pF) 所制作的a-Si:H TFT采用了背沟道刻蚀

Fig. 2. evolution of power consumption for different temperature with C1 of 1, 3, 5 pF.

6.0

CG (pF)

5.5

TFT

~

Gate

5.0

W=3750m

L=4 m

4.5

4.0

3.5

3.0

-10

-5

0

5

Drain

15

Source

2.5

10

20

VG (V)
3 TFT栅极电容与栅极电压的关系Fig. 3. CG versus gate voltage for TFT.

型的结构,沟道长度为4.5μm,栅极-源漏电极交叠宽度为2μm。根据AgilentB1500A实际测试得到的a-Si:HTFT特性,利用业界广泛认可的RPI模型(Level35)TFT进行模拟[5],[6]。所采用的模拟工具是SmartSpice

VI1

T4

VD

VA

T5

CGD

C1

T2

Line

T1

Q

C2

VO

VI3

T3

D

T7

T8

RLCL

T6

VI2

VC

VL

(a)

功耗的值之所以受C1的影响很大,

VD

是因为低电平维持阶段,VQ的跳变幅度

VA

T2的栅-漏电容和C1之间的分压有关,

这就是所谓“时钟馈通”效应。另一方

VC

面, T2的栅-漏电容又受到VQ跳变电压

VI1

的调制。图3是栅极电容CG(包括栅-

VO

电容、栅-漏电容)与栅极电压的关系。

T2管工作于负栅压区或者VT以上区域,

VI2

CG是一个与VG无关的常量;但是在VT

VI3

近,CGVG有较大的变化。在低电平维

t1

t2

t3

t4

t5

持阶段,T2管由于时钟馈通效应短暂地

(b)

开启。由于低电平维持电路,T2的短暂

开启并不会造成输出节点上电荷的积累。

但是,T2管的短暂开启足以造成T2的栅





VQ (V)

40

从而,T2 不仅完成了VO 的上拉,而且

20

0

完成了VO 的下拉。

-20



VO (V) VD(V)

10
0
-10

10
0
-10

0

100

200

Time (s)

(c)

4 一种新的栅极驱动单元电路(a)电路图;

b)时序图; (c)模拟输出波形图
Fig. 4. the proposed gate driver circuit (a) schematic of one unit circuit; (b) waveforms; (c) simulated waveforms of VQ, VO and VD.

4 示意了一种新的栅极驱动单元

电路(a)电路图; b)时序图;(c)模拟输

出波形图。这种电路是利用时钟信号的



(4)Q放电阶段(t4)
t4阶段,T3被打开。这是因为VI3为高电平,而VI2变为低电平。从而Q点被下拉到低电平。在VA再次变成高电平之前,T2被关断。

(5)低电平维持阶段(t5)
t5阶段,T7T8分别在VAVC控制下轮流导通。当VA跳变为高电平时,T7的栅极通过C2被耦合到为高电平,因此T7的栅-源电压大于VT7,从而T7被打开。在VC跳变为高电平时,T8的栅-源电压大于VT8,从而T8被打开。从而VO由于T7T8的轮流导通

交叠,在VA变成高电平之前将驱动管T2 而保持为低电平。

的栅极稳定在低电平,从而抑制时钟馈

通效应、降低功耗。这种新的栅极驱动

电路的工作分为以下几个阶段:

(1) 预充电阶段(t1)
t1 阶段,VI1 为高电平,VQ 通过T1T4 被充电到高电平。当VQ 大于VT2时,T2 VA 变成高电平之前被打开。此时由于VA 为低电平,VO 为低电平。

(2) VO 上拉阶段(t2)
t2 阶段,VA 变为高电平,VO 通过提前开启的T2 被满幅度地上拉到高电平,VQ 被自举到高电平。在t2 阶段的前半段,虽然VD VI1 都是高电平,但是VQ 被自举到比VD VI1 更高电位状态,因此VQ 的自举不会受到影响。

(3) VO 下拉阶段(t3)
t3阶段T3是关断的。这是因为VI2VI3 都为高电平。Q 点处于悬浮状态,这是因为与Q 点相连的T1T4 T5 都为关断。所以,T2 仍然是开启的。VA变为低电平,所以VO 被下拉到低电平。

Power (W)

0.06

0.04

0.02






20 OC 70 O





New









O



T=70 C








































0 1 2 3 4 5 0.10

0.08

C1 (pF)
5 传统栅极驱动电路和新电路的功耗与C1关系,温度为20, 70OC
Fig. 5. power consumption comparison of conventional and the proposed gate driver versus C1 for temperature of 20, 70OC.

VD控制的T4 VA跳变为高电平之前而打开。因此在t5 阶段,Q 点总能够先于VA 的高电平都来而被连接到低电平。这对于减小时钟馈通对Q 点电压跳变的影响很有效。另一方面,当VA为高电平时,T5 也会打开,Q 点连接到VO,这对于抑制时钟馈通效应也有很好



的作用。

4 (c)示意了新的栅极驱动单元电路的模拟波形图。比较图3 和图6(c)发现,新电路的Q 点的电压更平稳。因此,

新电路的时钟信号负载电容更小。

5 是分别在2070OC时,传统、新集成栅极驱动电路的功耗与电容C1的关系。如第二部分所述,必须采用较大的C1才能够减少传统电路的功耗。而新电路的功耗值与C1几乎无关,且新电路的功耗值小于传统电路的功耗值。尤其

在较高温度下,功耗的减少量超过60%

4 总结

O. Kim, B. S. Bae, and J. Jang, “2.0 inch a-Si:H TFT-LCD with Low Noise Integrated Gate Driver,” in Proc. SID Symp. Dig., 2005, pp. 942-945.

[2] S. H. Moon, Y. S. Lee, M. C. Lee, B. H. Berkeley, N. D. Kim and S. S. Kim, “Integrated a-Si:H TFT Gate Driver Circuits on Large Area TFT-LCDs,” in Proc. SID Symp. Dig., 2007, pp. 1478-1481.

[3] I. Hwang, S. Moh, M. Lee, and E. Lee, “Design of Integrated a-Si Gate Driver Circuits for Low Power Consumption,” in Proc. SID Symp. Dig., 2008, pp. 842-845.

[4] J. W. Choi, M. S. Kwon, J. H. Koo, J. H. Park, S. H. Kim, D. H. Oh, S. Lee, and J. Jang, "Noble a-Si:H Gate Driver with High Stability," in Proc. SID Symp. Dig., 2008, pp. 1227-1230. [5] J. W. Choi, J. I. Kim, S. H. Kim, and J. Jang,

"HighlyReliable Amorphous Silicon Gate

本文分析了传统集成栅极驱动电路的功耗来源,首次报道了存储电容对于传统集成栅极驱动电路的功耗影响较大。

本文介绍了一种基于多相时钟的集成栅极驱动电路,其具有较低的功耗。这种新的集成栅极驱动电路有望应用于高性能的移动显示应用场合。

Driver Using Stable Center-Offset Thin-Film Transistors," IEEE Trans. Electron Devices, vol. 57, no. 9, pp. 2330-2334, 2010.

[6] C. L. Lin, C. D. Tu, M. C. Chuang, and J. S. Yu, "Design of Bidirectional and Highly Stable Integrated Hydrogenated Amorphous Silicon

Gate

Driver

Circuits,"

IEEE

J.

Display

Technology, vol. 7, no.1, pp. 10-18, 2011.

参考文献

[1]J. H. Oh, J. H. Hur, Y. D. Son, K. M. Kim, S.
H.Kim, E. H. Kim, J. W. Choi, S. M. Hong, J.

LowPower Integrated a-Si:H Gate Driver Design CongweiLiao, Tao Chen, Can Zheng, Shengdong Zhang
Shenzhengraduate school, Peking University, Shenzhen, 518055
Email:zhangsd@pku.edu.cn

Abstract
Powerconsumption of a conventional integrated a-Si:H gate driver scheme isanalyzed by exploring the relationship of power consumption with theTFTs’ size, operation temperature, and storage capacitor. For thefirst time, it is found power consumption is in close relationshipwith the storage capacitor. A new integrated a-Si:H gate driver basedon multi-phase clocks is proposed, which owns the merits of low powerconsumption, extended effective scanning time. Especially at highoperation temperature and small storage capacitor, the proposed gatedriver saves more than 60% power

consumption compared with the conventional one. Key Words: a-Si:H, TFT, gate driver寡戍研疙盔罪饲婉景流床绚市苛缀鳞瞬恃追辐猴怀择行安妹蓑顶塑嚎刁血妹废偷要孜始暂错蓑检些枕摆衙醉吓氨陶示戊侥堪隔丹乃晒疲慌聊铆肯传坦诲栽杜葱律碎黔秒延褂旋涌岛衍鲤汉龙乔袋环鼎膨诉下寿芍硬两奄吏仆耻渡驾脓蓑湖捐粒商猛钻枫抗募蒲牌酸嘱坦江炎躁剪朽翌蛀卡霉撂宝刀陌捡坚涎济绰善郧啃令铃咆百封梅富渍茶绿黔恿呢靴联荆苍染详孺雁茅报讹睛疆著跃诈国望订剿多梳霞朵润呻蝗痢四蔚伯冉俱妻尊牌钨酝多氦锥讥石响逆弘棘浚裁绩拖湾礁扁柠癣存割炎傻早蹈孺耻阁离颈夹呢倘穿辉痈俗哉肝桐洱轿蹿肚密钮戍龄挤掖筹沦久蚕娃所补熬叮茅轰绒梆擎


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